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薄膜热电参数测试系统（MRS-3）

薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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 产品技术参数

型号 MRS-3
温度范围 100K~700K（样品温度）
温控方式 PID程序控制
真空度 ≤ 10Pa
测试气氛 真空
分辨率

seebeck系数：0.05µV/K

电阻率：0.05µΩ•m
相对误差

seebeck系数 ≤ ±7%

电阻率 ≤ ±10%
测量模式 自动
样品尺寸 长度：10mm~18mm； 宽度：2mm~7mm；厚度：50nm~2mm
主机尺寸 采集箱：470mm*400mm*140mm    
  变温装置：直径 460mm*高 800mm
重量 32kg

 

未找到相应参数组，请于后台属性模板中添加
产品特点
● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
● 测试环境温度范围达到81K~700K。
● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。
● 采用四线法测量电阻率。
● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。
● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。
产品应用
● Seebeck效应
● Peltier效应
客户案例
● 宁波大学
● 中科院化学所
● 深圳大学
● 武汉大学

薄膜热电参数测试系统操作讲解视频：

Keyword:
热电参数测试
seebeck系数
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