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薄膜热电参数测试系统（MRS-3RT）

薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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产品技术参数

型号 MRS-3RT
温度范围 RT
测试气氛  空气
测量范围

泽贝克系数：|S| ≥ 8µV/K

电阻率：0.1µΩ•m ~ 106µΩ•m
分辨率

泽贝克系数：0.05µV/K

电阻率：0.05µΩ•m
相对误差

赛贝克系数 ≤ ±7%

电阻率 ≤ ±10%
样品尺寸 长度:10mm~18mm；宽度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm
主机尺寸 170x250x220（mm）
重量 3.5kg

 

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产品特点
● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
● 测试环境温度范围达到81K~700K。
● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。
● 采用四线法测量电阻率。
● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。
● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。
产品应用
● Seebeck效应
● Peltier效应
客户案例
● 宁波大学
● 中科院化学所
● 深圳大学
● 武汉大学
Keyword:
热电优值
Seebeck系数
动态法测量
四线法测量
电阻率测试
电导率测试
塞贝克系数

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