薄膜热导率测试系统TCT-3HT采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率随温度变化的趋势，为广大科研工作者提供稳定可靠的实验依据。可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、热阻材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。